Читайте также:
|
На предприятии в течение некоторого периода ежедневно проводилась регистрация относительного количества бракованных микросхем (признак X), данные которых записаны в виде статистического ряда. Результаты измерений даны в процентах.
| 19,1 | 17,4 | 14,8 | 19,7 | 18,7 | 14,9 | 17,8 | 14,9 | 17,1 | 15,8 |
| 17,1 | 17,9 | 16,2 | 15,9 | 16,5 | 16,3 | 15,8 | 17,7 | 15,6 | 17,3 |
| 13,3 | 17,2 | 15,6 | 20,6 | 19,8 | 18,5 | 16,3 | 15,3 | 15,9 | 16,9 |
| 17,2 | 19,7 | 18,4 | 16,8 | 16,4 | 19,8 | 20,5 | 17,5 | 17,9 | 17,1 |
| 18,2 | 17,4 | 14,9 | 16,8 | 16,5 | 15,2 | 17,1 | 15,7 | 18,4 | 15,9 |
Произвести статистическую обработку результатов измерений:
1) построить интервальный вариационный ряд;
2) построить гистограмму относительных частот, эмпирическую функцию распределения и ее график (кумулянту);
3) найти выборочные числовые характеристики 
;
4) по геометрическим характеристикам и по соотношениям между числовыми характеристиками выдвинуть гипотезу о законе распределения признака X;
5) проверить гипотезу о законе распределения признака X по критерию 
-квадрат при уровне значимости 0,05;
6) найти 95%-ые доверительные интервалы для математического ожидания и среднего квадратического отклонения.
Дата добавления: 2015-01-12; просмотров: 26 | Поможем написать вашу работу | Нарушение авторских прав |