|
Фотодиоды представляют собой пластинку полупроводника, внутри которой имеются
Рис.7 Схемы фотодиодов: а- направление светового потока
паралельно плоскости p-n-перехода; б- направление светового
потока и плоскость p-n-перехода взаимно перпендикулярны:
1-вывод n-области, 2-вывод p-области.
области электронной (n-область) и дырочной (р-область) проводимости, разделенные электронно-дырочным переходом (рис.7).
Р-n-переход как фотоприемник применяется в двух режимах - фотодиодном, когда на р-n-переход подается обратное смещение, и фотогальваническом режиме, то есть в режиме генерации фото ЭДС. При этом внешний источник питания отсутствует (рис.8).
Рис.8 Схема включения фотодиода: а- фотогальванический режим;
б- фотодиодный режим.
Под действием света, падающего на поверхность полупроводника, происходит генерация электронно-дырочных пар. Электрическое поле перехода разделяет неравновесные носители заряда. По мере возрастания этого поля возрастает и обратный поток носителей. Наступает динамическое равновесие, при котором число неосновных носителей, перемещающихся в единицу времени через запирающий слой, равно числу носителей, перемещающихся в обратном направлении. При этом между электродами устанавливается некоторая разность потенциалов Е. Это и есть фото ЭДС. При подключении к выводам фотодиода сопротивления нагрузки Rн в ее цепи потечет ток I, величина которого определяется разностью встречных потоков носителей через р-n-переход. Аналитическое выражение для вольтамперной характеристики фотогальванического приемника при его освещении имеет вид
I = Iнас*(ехр(ехи/(КхТ) - I) - Iф), | (2) |
где I - ток во внешней цепи; Iнас - ток насыщения, протекающий через неосвещенный р-n-переход, то есть темновой ток; е - заряд электрона; К - постоянная Больцмана; Т - абсолютная температура; Iф - фототок, созданный возбужденными светом носителями.
В фотодиодном режиме ток через переход определяется неосновными носителями заряда, и при |u| >>RhI, |u|» КТ/е уравнения семейства вольт-амперных характеристик имеют вид
I = Iнас + Iф. | (3) |
На рис.9,а представлены вольт-амперные характеристики фотодиодов при различных световых потоках Ф. Здесь направление фототока принято за положительное. При изменении светового потока Ф характеристики смещаются параллельно оси абсцисс на величину, пропорциональную Ф. Семейство вольт-амперных характеристик фотодиода эквидистантно. Нижняя характеристика соответствует темновому току фотодиода, т.е. обратному току через неосвещенный р-n-переход: I=Iнас
Рис.9 Вольт-амперные характеристики
Фотоприемников: а- фотодиодном режиме;
б- в фотогальваническом режиме.
Фотодиоды используются при подаче напряжения в запирающем направлении: при включении прямого смещения в цепи фотодиода течет прямой ток, слабо зависящий от освещенности и опасный из-за большой величины, могущей вызвать перегрев прибора. Семейство вольт-амперных характеристик в фотогальваническом режиме при различных световых потоках Ф приведено на рис.9,б. При изменении светового потока точки вольт-амперных характеристик по оси ординат (режим короткого замыкания, Rн = 0) смещаются пропорционально световому потоку. Смещение по оси абсцисс в режиме холостого хода (Rн = ∞) пропорционально логарифму светового потока. Нагрузочные прямые, проведенные из начала координат, пересекают характеристику в точках, абсциссы которых соответствуют падению напряжения на нагрузочном сопротивлении RнI, а ординаты -току во внешней цепи I.
Чувствительность фотогальванических элементов (спектральная или интегральная) измеряется в режиме короткого замыкания, т.е. когда фототок связан со световым потоком линейной зависимостью:
S = Iф/Ф = Iкз/Ф. | (4) |
Чувствительность фотодиода определяется как отношение фототока при небольшом обратном напряжении к вызвавшему его световому потоку:
S = (I - Iт)/Ф, | (5) |
где It - темновой ток. Из рис.9,а видно, что вольт-амперные характеристики фотодиода смещаются при освещении параллельно оси абсцисс. Фототок фотодиода очень слабо зависит от величины приложенного напряжения и равен по величине току короткого замыкания фотоэлемента в фотогальваническом режиме. Таким образом, фотоприемник в фотодиодном и фотогальваническом режимах обладает одинаковой чувствительностью по току. Вольтовая чувствительность этих приборов, т.е. отношение падения напряжения на сопротивлении нагрузки к световому потоку в фотодиодном режиме намного больше, чем в фотогальваническом:
Su = RнI/Ф = Uc/Ф. | (6) |
В фотогальваническом режиме максимальный фототок течет в цепи только в режиме короткого замыкания. Построение нагрузочной прямой на вольт-амперной характеристике фотоприемника (рис.9,б) показывает, что при наличии во внешней цепи небольшого сопротивления фототок заметно снижается. Сигнал Uc = RнI, снимаемый с нагрузки, не превышает напряжения холостого тока, равного фото ЭДС, величина которой ограничивается шириной запрещенной зоны полупроводника и составляет десятые доли вольта.
В фотодиодном режиме величина фототока фотоприемника практически не изменяется при включении высокоомной нагрузки (рис.9,а). Следовательно, сигнал, снимаемый с нагрузочного сопротивления, может достигать большей величины, близкой к значению приложенного напряжения. Внутреннее дифференциальное сопротивление фотоприемника в фотодиодном режиме, определяемое по наклону вольт-амперной характеристики, очень велико (106... 107 Ом).
Энергетические характеристики фотоприемников в фотодиодном режиме линейны в широких пределах. В фотогальваническом режиме такая закономерность отсутствует (рис.10).
Фотодиоды являются быстродействующими фотоприемниками, инерционность которых, в отличие от инерционности фоторезисторов, не зависит от потока излучения, но изменяется в зависимости от режима работы и конструкции прибора.
Процесс формирования сигнала характеризуется тремя основными). 1)постоянными времени: 1) временем жизни t неосновных носителей заряда; 2) временем их пролета t от места генерации до разделения, 3) временем зарядки и разрядки емкости перехода, представляющей собой узкую область с повышенным сопротивлением между двумя низкоомными n- и р-областями. Инерционность фотоприемника определяется наибольшим временным параметром. Фотодиодный режим работы оказывается менее инерционным и обладает лучшими частотными характеристиками, чем фотогальванический (рис.11).
Рис.10 Энергетические характеристики фотоприемников.1,2- фотодиодный режим, ;3-фотогальванический режим.
Рис.11 Частотные характеристики кремневого фотоприемника
дя двух фотодиодных и фотогальванического режимов.
В фотогальваническом режиме граничные частоты кремниевых фотоприемников составляют 1... 2 МГц, в фотодиодном - свыше 50 МГц при запирающем напряжении 100 В. В свою очередь, фотогальванический режим обладает двумя важными преимуществами перед фотодиодным: отсутствие источника питания и чрезвычайно низкий уровень собственных шумов. Меньшая величина шумов в фотогальваническом режиме обусловлена тем, что в этом режиме отсутствует темновой ток, в то время как в фотодиодном режиме этот ток имеет заметную величину и шумы определяются его флуктуациями.
На основании вышеизложенного видно, что принципиального различия между фотогальваническими элементами и фотодиодами нет: любой фотодиод можно использовать как в фотодиодном, так и в фотогальваническом режимах. Однако не всякий фотогальванический элемент допускает включение в фотодиодном режиме.
В настоящее время основными материалами для изготовления фотодиодов являются германий и кремний. По конструкции и особенностям работы различают несколько основных типов фотодиодов: сплавные, диффузионные, p-i-n-фотодиоды, лавинные фотодиоды, диоды Шотки, инфекционные фотодиоды.
Дата добавления: 2015-09-11; просмотров: 111 | Поможем написать вашу работу | Нарушение авторских прав |
<== предыдущая лекция | | | следующая лекция ==> |
ФОТОРЕЗИСТОРЫ | | | ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ |