Главная страница | Контакты | Случайная страница Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Структурные методы и ВСТ.

Методы анализа тестопригодности.

Существуют два пути количественной оценки тестопригодности схемы,

которые могут использоваться до генерации теста и оценки его качества счётные и алгоритмические методы.

Методы тестопригодного проектирования.

Классификация использование ТПР в качестве потенциального решения задачи тестирования СБИС обусловлено следующими факторами:

· необходимость эффективных по стоимости методов тестирования, пригодных для использования на всех этапах от разработки до изготовления и эксплуатации;

· неадекватность модели ОКН дефектам СБИС;

· увеличение сложности упаковки СБИС при ограниченном количестве

внешних выводов, что приводит к ухудшению доступности внутренних логических узлов;

· увеличение стоимости и продолжительности решения задачи генерации

тестов;

· увеличение объема информации, содержащегося в тестовых наборах, в

связи с чем, вырастает трудность организации эффективной обработки даннойинформации с помощью автоматического испытательного оборудования;

· значительная стоимость автоматического испытательного оборудования

и времени выполнения тестирования, а также все увеличивающийся разрыв

между производительностью тестера и быстродействием тестируемых схем.

Главными различиями между структурными, ВСТ и неструктурными ме-

тодами ТПР – это:

· точка применения в процессе проектирования;

· количество дополнительного оборудования (логики), которое тре-

буется для реализации метода.

Неструктурные методы представляют собой совокупность правил улуч-

шения управляемости и наблюдаемости некоторых элементов схемы.

· Используются на последних этапах проектирования.

· Требуют незначительных дополнительных аппаратурных затрат для

Реализации

Структурные методы и ВСТ.

· Являются интегральной частью процесса проектирования (начиная с самых ранних этапов).

· Требуют значительно больших аппаратурных затрат по сравнению с не-

структурными методами.

Существует довольно большое количество структурных методов илиметодов сканирования. Наиболее известные из них:

ScanPath (сканируемого пути) фирмы NipponElectric (Япония).

RandomAccessScan (сканирование с произвольным доступом) фирмы

Fujitsu (Япония). LSSDh (LevelSensitiveScanDesign) (сканирование, чувствительного к уровню тактового сигнала) фирмы IBM (США).

ScanSet(сканирование-установка) фирмы SperryUnivac (транснацио-

нальная корпорация).BoundaryScan (граничное сканирование) исследовательской группы JTAG при поддержке 200 фирм.