Главная страница | Контакты | Случайная страница Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Задание 2. Исследование свойств обыкновенного и необыкновенного лучей, получаемых с помощью пластины из одноосного кристалла

1. В соответствии с рис. 8 разместить последовательно на оптической скамье: источник света ИС, двоякопреломляющую пластину ПЛ с закрепленной на держателе диафрагмой Д, поляроид (анализатор) А, объектив О и экран Э. Диафрагму установить на самое маленькое отверстие.

Замечание: пластина с диафрагмой должна быть установлена так, чтобы диафрагма была повернута к источнику света.

2. Вывести анализатор А из поля светового луча.

3. Перемещая объектив О, добиться четкого изображения двух световых пятен на экране Э.

4. Вращать вокруг оптической оси пластину ПЛ, наблюдая за положением пятен на экране.

5. В соответствии с рис. 3 определить, какой из двух лучей является обыкновенным, а какой – необыкновенным.

6. Поместить анализатор А между пластиной ПЛ и объективом О.

7. Вращая анализатор А относительно оптической оси, отмечать по шкале углы, соответствующие максимумам и минимумам интенсивности обыкновенного и необыкновенного лучей по освещенности пятен на экране Э. Результаты измерений внести в таблицу 2 в первую строку («без поляризатора»).

Таблица 2

8. По результатам измерений определить угол между плоскостями поляризации обыкновенного и необыкновенного лучей.

9. На оптической скамье между источником света ИС и пластиной ПЛ с диафрагмой Д поместить поляризатор П (рис. 9).

10. Вынуть оправу с пластиной ПЛ из стойки. Вращая один из поляроидов, добиться минимума освещенности светового поля на экране Э.

11. Вновь закрепить на стойке оправу с пластиной ПЛ.

12. Вращая пластину ПЛ вокруг оптической оси, измерить по шкале её углы поворота, соответствующие максимальному и минимальному значениям интенсивности обыкновенного и необыкновенного лучей. Результаты измерений внести в таблицу 2 во вторую строку («при скрещенных поляроидах»).

P K     A A     K P   Рис. 10

Здесь РР и АА – оптические плоскости поляризатора и анализатора соответственно, а KK – оптическая плоскость кристалла, проходящая через его оптическую ось и направление падения светового луча. Получаемый после поляризатора линейно поляризованный луч света с амплитудой разлагается после кристалла на необыкновенный и обыкновенный лучи. Анализатор выделяет проекции амплитуд необыкновенного и обыкновенного лучей.

14. Повторить предыдущий опыт, настроив поляроиды на максимальную освещенность. Результаты измерений внести в таблицы 2 в третью строку («при параллельных поляроидах»). Полученную закономерность объяснить с помощью соответствующей векторной диаграммы.